1. Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology
پدیدآورنده : / Klapetek, Petr
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
رده :
E-BOOK